[发明专利]性能测试方法、装置、存储介质及终端在审
| 申请号： | 202110254160.9 | 申请日： | 2021-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN112905432A | 公开（公告）日： | 2021-06-04 |
| 发明（设计）人： | 刘通;朱兴军;杨威 | 申请（专利权）人： | 北京大米科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/34 | 分类号： | G06F11/34;G06F11/30 |
| 代理公司： | 北京恒博知识产权代理有限公司 11528 | 代理人： | 张晓芳 |
| 地址： | 100089 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了一种性能测试方法、装置、存储介质及终端，属于计算机技术领域。方法包括：终端监测目标应用程序对应的程序代码是否发生变化，在目标应用程序对应的程序代码发生变化的情况下，对目标应用程序进行Mock模拟测试处理得到目标模块对应的性能占比数据，分析性能占比数据得到目标模块的性能测试结果，由此可准确地区分目标应用程序中目标模块在运行过程中产生的性能数据，提高性能测试效率和准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 性能 测试 方法 装置 存储 介质 终端 | ||
【主权项】：
暂无信息
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