[发明专利]一种阵列基板栅极驱动电路测试组件及方法有效
| 申请号： | 202110254439.7 | 申请日： | 2021-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN113012612B | 公开（公告）日： | 2023-01-17 |
| 发明（设计）人： | 陈国朵;郑浩旋 | 申请（专利权）人： | 惠科股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 曹小翠 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区石岩街道石龙社区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请适用于显示技术领域，提供了一种阵列基板栅极驱动电路测试组件及方法，其中，阵列基板栅极驱动电路测试组件，包括：第一测试组件，用于与阵列基板栅极驱动电路的栅极启动信号输入端、复位信号输入端和m个扫描信号输出端连接；第二测试组件，用于与栅极启动信号输入端、复位信号输入端和m个扫描信号输出端连接；其中，阵列基板栅极驱动电路包括n个扫描信号输出端，m小于或等于n且m和n为正整数，通过采用两个测试组件同时对阵列基板栅极驱动电路的相同信号端口进行测试，可以有效提高测试结果的准确性，从而有效提高测试合格的阵列基板栅极驱动电路的稳定性和可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 阵列 栅极 驱动 电路 测试 组件 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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