[发明专利]一种芯片边缘检测方法及装置在审
| 申请号： | 202110258511.3 | 申请日： | 2021-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN112992250A | 公开（公告）日： | 2021-06-18 |
| 发明（设计）人： | 刘者 | 申请（专利权）人： | 江苏半湖智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/10 | 分类号： | G11C29/10;G11C7/10;G11C7/18;G11C8/14 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 215000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片边缘检测方法及装置，芯片包括至少一个存储区域，每个存储区域包括多个存储单元，包括：在向位于芯片边缘和/或存储区域边缘的各存储单元写入预设数据后，读取芯片边缘和/或存储区域边缘的各存储单元的数据作为读取数据；根据读取数据和预设数据，确定芯片边缘检测结果。本发明实施例提供的芯片边缘检测方法，不需要芯片原厂的边缘完整性检测电路的技术支持，无需额外设置相应的检测电路，能够简化芯片的检测过程，在芯片出厂前后均能够对芯片进行有效的检测与筛查，提高了半导体器件的成品的有效性能，保证了电子产品的质量以及可靠性；同时，能够实现对多个存储区域边缘的裂纹情况进行检测，进一步提高芯片的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 边缘 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
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