[发明专利]内存装置测试方法及装置、可读存储介质、电子设备在审
| 申请号： | 202110260087.6 | 申请日： | 2021-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN112988484A | 公开（公告）日： | 2021-06-18 |
| 发明（设计）人： | 余玉 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;B25J9/16 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 王辉;阚梓瑄 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本公开涉及计算机技术领域，提供了一种内存装置测试方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备，该内存装置测试方法包括：根据目标测试平台的位置坐标和内存装置的当前位置坐标确定运行路径；根据所述运行路径设置移动装置，以使所述移动装置根据所述运行路径将所述内存装置移动至所述目标测试平台中；控制所述目标测试平台根据目标测试程序对所述内存装置进行测试；实时监测所述内存装置的测试结果，并将所述内存装置的测试结果存储至数据库中。本公开能够实现对内存装置的全自动化测试，提高了测试的效率和准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 内存 装置 测试 方法 可读 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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