[发明专利]一种双界面智能卡模块开短路的测试装置在审
| 申请号： | 202110264836.2 | 申请日： | 2021-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN113030703A | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 吴竞;刘红伦;赵韵 | 申请（专利权）人： | 上海伊诺尔信息电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04;G01R1/067;G01R31/52 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人： | 徐俊 |
| 地址： | 201112 上海市闵行区*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种双界面智能卡模块开短路的测试装置，包括接触面上测试针板和电性能测试箱，所述接触面上测试针板设有上测试探针，上测试探针的探针数量与智能卡的接触触点数量相同并一一对应，探针前端连通对应接触触点，探针后端电性连接至电性能测试箱，其特征在于，还包括非接测下试针板，所述非接测下试针板设有下试探针，下试探针的探针数量与智能卡的非接触触点数量相同并一一对应；所述上测试探针中的一个探针设有探针引出接口并电性连接至下试探针的所有探针。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 界面 智能卡 模块 短路 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海伊诺尔信息电子有限公司，未经上海伊诺尔信息电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110264836.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
