[发明专利]一种液晶空间光调制器相位调制特性自动测量方法在审
| 申请号： | 202110268565.8 | 申请日： | 2021-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN113092073A | 公开（公告）日： | 2021-07-09 |
| 发明（设计）人： | 吴云龙;邵立;叶庆;豆贤安 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军国防科技大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人： | 封睿 |
| 地址： | 安徽省合肥*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种液晶空间光调制器相位调制特性自动测量方法，基于Twyman‑Green干涉法的改进进行相位调制特性的测量，先在在反射镜与透反镜之间设置可调节透镜，动态微调节光路中两束光束的光程差，获取稳定、清晰的干涉条纹，然后对实验中采集的具有一定宽度的干涉条纹进行单像素提取，从而获得理想干涉条纹，之后利用自动程序对理想干涉条纹进行计算从而获得条纹的水平位移量和条纹周期，最后计算每一个灰度值所对应的相位延迟，生成液晶空间光调制器的相位调制曲线。本发明可以降低传统测量方法对环境的依赖性，方便获得稳定、清晰的干涉条纹；利用计算机程序实现对干涉条纹的自动检测和处理，克服人工处理条纹所引起的误差大、效率低等现实问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 液晶 空间 调制器 相位 调制 特性 自动 测量方法 | ||
【主权项】：
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