[发明专利]一种基于声压和质点振速双面测量的声场分离方法有效
申请号: | 202110269249.2 | 申请日: | 2021-03-12 |
公开(公告)号: | CN113063490B | 公开(公告)日: | 2022-03-01 |
发明(设计)人: | 黎敏;潘薇;冯道方;毛安来;李远文;阳建宏 | 申请(专利权)人: | 北京科技大学 |
主分类号: | G01H17/00 | 分类号: | G01H17/00 |
代理公司: | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人: | 张仲波;邓琳 |
地址: | 100083*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种基于声压和质点振速双面测量的声场分离方法,包括:在被测声场中设置两个互相平行的测量面,采集两个测量面上的声压和质点振速;基于双面声压数据和加权迭代等效源算法确定阵列两侧的声源位置;根据拟合测量面幅值误差最小原则获取声源垂直于测量面的位置坐标;基于声源初步定位结果在每个声源内部布置等效源;建立多个等效源和双测量面之间的传递函数,对符合及不符合稀疏分布的声压或质点振速分别进行相应处理,获取源强分布;根据声场传递函数重构每个声源的辐射声场,并进行目标声场叠加,获取测量面分离数据后,进一步实现目标声场重构。本发明实现方便、适用于任意形状测量面、计算稳定性好、分离精度高。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 声压 质点 双面 测量 声场 分离 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京科技大学,未经北京科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110269249.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。