[发明专利]一种介电温谱测试方法有效
| 申请号： | 202110270319.6 | 申请日： | 2021-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN113325044B | 公开（公告）日： | 2022-01-28 |
| 发明（设计）人： | 宋长青;邵海宝;王敬时;周童 | 申请（专利权）人： | 南通大学 |
| 主分类号： | G01N27/22 | 分类号： | G01N27/22 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 226019*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明属于材料性能测试技术领域，提供了一种介电温谱测试方法。本发明提供的方法在待测对象的温度随时间变化的过程中，持续测量待测对象的介电特性，记录不同温度下的介电频谱，由此获取待测对象的介电温谱。该方法仅需一个温度升高或降低的过程，即可得到薄膜的介电温谱，无需繁琐地在每一个测试温度点下停留一段时间，极大地降低了科研人员的人力成本。由于本发明的方法，薄膜的温度连续、线性地上升或下降，整个过程持续不断，由计算机自动地测量和记录数据，因此，从理论上说，本发明的一个测试的过程所得到的温频参数，即相当于大量的温度点下测量得到的工作频率特性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 介电温谱 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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