[发明专利]一种磁热声温度成像方法与装置有效
| 申请号： | 202110271273.X | 申请日： | 2021-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN112914539B | 公开（公告）日： | 2022-08-05 |
| 发明（设计）人： | 夏慧;刘国强;吴海飞;罗为;赵筱赫 | 申请（专利权）人： | 中国科学院电工研究所 |
| 主分类号： | A61B5/05 | 分类号： | A61B5/05;A61B8/00;A61B8/08;G01K11/22 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 关玲 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种磁热声温度成像方法与装置，采用脉冲激励源通过激励线圈激励目标体，由于脉冲磁场的作用，在目标体内产生焦耳热，引起热膨胀产生超声波。超声换能器检测超声信号，利用检测的超声信号重建目标体的温度场分布和电导率分布，重建的电导率分布能够补偿由于电导率差异性导致的温度分布。磁热声温度成像装置包括脉冲磁场激励系统、超声检测系统和计算机(A1)；计算机(A1)分别连接脉冲磁场激励系统和超声检测系统，脉冲磁场激励系统采用非接触方式激励目标体(A5)，目标体(A5)产生的超声信号通过耦合介质耦合到超声检测系统的超声换能器(A6)。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 磁热声 温度 成像 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院电工研究所，未经中国科学院电工研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110271273.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
