[发明专利]半导体封装结构、方法、器件和电子产品在审

专利信息
申请号: 202110272185.1 申请日: 2021-03-12
公开(公告)号: CN113078149A 公开(公告)日: 2021-07-06
发明(设计)人: 李维平 申请(专利权)人: 上海易卜半导体有限公司
主分类号: H01L25/16 分类号: H01L25/16;H01L23/31;H01L21/98;H01L21/60;H01L23/488
代理公司: 北京市中伦律师事务所 11410 代理人: 钟锦舜
地址: 201700 上海市青浦区*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 本申请提供一种半导体封装结构、方法、器件和电子产品。该半导体封装结构中,被封装元件一一对应地固定在衬底上的凹槽内;被封装元件的有源表面背向衬底,被封装元件与其所处凹槽之间由绝缘材料隔开,各被封装元件均具有位于其有源表面上的第一焊盘,全部第一焊盘的背向衬底的表面平齐;重布线层位于被封装元件背向衬底一侧,重布线层的第一面上形成有多个第二焊盘,重布线层的与第一面相对的第二面上形成有多个第三焊盘,第二焊盘与第一焊盘一一对应地电接触;钝化层位于重布线层背向衬底一侧;衬底由半导体材料或绝缘材料形成,衬底与被封装元件内的半导体材料的热膨胀系数相同或相近。该封装结构翘曲程度小、散热性能好、可靠性高。
搜索关键词: 半导体 封装 结构 方法 器件 电子产品
【主权项】:
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