[发明专利]锗衬底-砷化镓/锗异质结薄膜复合结构及其制法和应用有效

专利信息
申请号: 202110274722.6 申请日: 2021-03-15
公开(公告)号: CN115084308B 公开(公告)日: 2023-07-21
发明(设计)人: 张建军;黄鼎铭 申请(专利权)人: 中国科学院物理研究所
主分类号: H01L31/109 分类号: H01L31/109;H01L31/0236;H01L31/18
代理公司: 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 代理人: 郭广迅
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种锗衬底‑砷化镓/锗异质结薄膜复合结构,其包括具有图形结构的锗衬底、位于所述锗衬底上的具有无原子台阶锗表面的锗层,以及位于所述锗层上的砷化镓层。本发明还提供一种制备本发明的锗衬底‑砷化镓/锗异质结薄膜复合结构的方法。本发明还提供本发明的锗衬底‑砷化镓/锗异质结薄膜复合结构或本发明的方法制得的锗衬底‑砷化镓/锗异质结薄膜复合结构在锗基III‑V族半导体光电器件中的应用。本发明的锗衬底‑砷化镓/锗异质结薄膜复合结构能够完全避免砷化镓/锗异质结构中反向畤的产生,进而实现无缺陷的异质结薄膜。本发明的制备方法简单,且能够实现大规模阵列式可控生长。
搜索关键词: 衬底 砷化镓 锗异质结 薄膜 复合 结构 及其 制法 应用
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