[发明专利]一种芯片测试机动态调试时修改、抓取AWG波形数据的方法在审
| 申请号： | 202110283516.1 | 申请日： | 2021-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN113051113A | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | 魏津;张经祥;吴艳平 | 申请（专利权）人： | 胜达克半导体科技(上海)有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G01R35/00 |
| 代理公司： | 上海专益专利代理事务所(特殊普通合伙) 31381 | 代理人： | 方燕娜;王雯婷 |
| 地址： | 201799 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及芯片测试机技术领域，具体地说是一种芯片测试机动态调试时修改、抓取AWG波形数据的方法。其特征在于包括如下步骤：S1，备份；S2，根据波形配置文件的参数调用数学函数产生相应的点，将点数据保存为波形文件格式；S3，设置示波器配置文件，通道触发条件；S4，编译器将波形文件编译为中间文档，装载器将中间文档载入AWG中；S5，触发芯片测试机运行；S6，示波器抓取数据，S7，保存数据；S8，恢复芯片测试机的设置和数据；S9，测试。同现有技术相比，在不改变芯片测试机原有测试程序的情况下，动态修改AWG波形数据，并用示波器抓取其波形频率以及通道之间的延时数据，解决了在测试过程中芯片测试机需要重新修改程序的问题，提高了调试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 机动 调试 修改 抓取 awg 波形 数据 方法 | ||
【主权项】：
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