[发明专利]一种冲击波测量靶准静压标定用膜片室及系统在审

专利信息
申请号: 202110284029.7 申请日: 2021-03-17
公开(公告)号: CN113091974A 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: 叶希洋;严家佳;王丹;张俊锋;何性顺 申请(专利权)人: 西安近代化学研究所
主分类号: G01L5/00 分类号: G01L5/00;G01L25/00
代理公司: 西安恒泰知识产权代理事务所 61216 代理人: 史玫
地址: 710065 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种冲击波测量靶准静压标定用膜片室及系统,解决了产生测量靶准静态标定所需准静态均布载荷的技术问题。所公开的膜片室包括气室上基体和气室下基体及设置在两者之间气室,所述气室方法设膜片安装部,气室底部设气体进口,侧部设气体出口。所公开的系统包括膜片室、供气瓶及缓冲气瓶。本发明装置能够使膜片处于周边固支状态,并施加准静态均布载荷,使膜片缓慢变形;且装置操作简单,标定快捷,标定压力可控,可以在0~5MPa的压力范围内对不同尺寸的测量靶膜片进行标定。
搜索关键词: 一种 冲击波 测量 静压 标定 膜片 系统
【主权项】:
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