[发明专利]一种大尺寸硅片双面抛光方法在审

专利信息
申请号: 202110286017.8 申请日: 2021-03-17
公开(公告)号: CN113001379A 公开(公告)日: 2021-06-22
发明(设计)人: 祝斌;武卫;刘建伟;刘园;刘姣龙;裴坤羽;杨春雪;由佰玲;孙晨光;王彦君;常雪岩;谢艳;袁祥龙;张宏杰;刘秒;吕莹;徐荣清 申请(专利权)人: 天津中环领先材料技术有限公司;中环领先半导体材料有限公司
主分类号: B24B29/02 分类号: B24B29/02;B24B27/00;B24B41/00;B24B41/06;B24B47/12;B24B57/02
代理公司: 天津诺德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 12213 代理人: 栾志超
地址: 300384 天津市滨海*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明提供一种大尺寸硅片双面抛光方法,步骤包括:控制置于硅片上方的压盘压力,并选择相应粒径的粗抛液对所述硅片双面进行粗抛;再调整所述压盘压力,并选择相应粒径的精抛液对所述硅片双面进行精抛;所述粗抛液或所述精抛液经同一主管道通过所述压盘流至设于所述硅片双侧的上抛垫和下抛垫;所述精抛液至少包括多元醇类化合物;且所述粗抛液和所述精抛液均包括SiO2和NH4OH的混合液。本发明依次对硅片经过粗抛、精抛之后,再在硅片双面进行水膜处理,即可以完全清除硅片表面的黏着剂,清洗效果好;亦可获得0.5μm以内的平坦度。
搜索关键词: 一种 尺寸 硅片 双面 抛光 方法
【主权项】:
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