[发明专利]一种适用于多天线测试的转接装置及其使用方法

摘要

本发明提供一种适用于多天线测试的转接装置，包括依次层叠的第一金属地板、第一介质层、第二金属地板、第二介质层和天线层，还包括金属柱组、用于向天线层所载入的天线体馈电的第一探针和用于与接头相接的第二探针；第一金属地板上设置有镂空槽，镂空槽内设置有梯度微带；梯度微带的宽度存在梯度变化，其一端与第一探针相接，另一端与第二探针相接；金属柱组中的金属柱沿着镂空槽的边依次排列；金属柱一端与第一金属地板连接，另一端与第二金属地板连接。该设计结构简单、对天线性能影响小、加工工艺简单、成本低，多个共面波导整合并共用同一第二金属地板即能够在小的测试面积及较低的费用前提下，实现测试多个天线性能，测试难度低。