[发明专利]一种荧光寿命偏差的定量化校正方法及装置有效
| 申请号： | 202110290121.4 | 申请日： | 2021-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN113203487B | 公开（公告）日： | 2022-07-19 |
| 发明（设计）人： | 陈秉灵;林丹樱;杨志刚;陈佳硕;屈军乐 | 申请（专利权）人： | 深圳大学 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00 |
| 代理公司： | 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312 | 代理人： | 鲍竹 |
| 地址： | 518060 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种荧光寿命偏差的定量化校正方法及装置，借助蒙特卡洛模拟方法模拟在一个激光脉冲周期内发射不同数量光子时，TCSPC系统的探测情况，获取不同发射光子数所对应的荧光衰减光子数分布直方图；利用最小二乘法对荧光衰减光子数分布直方图进行拟合，得到TCSPC系统对应于不同发射光子数探测时的荧光寿命；统计TCSPC系统采样过程中，多光子探测的荧光寿命与单光子探测的荧光寿命之间的定量关系；基于定量关系，校正TCSPC系统的荧光寿命偏差。通过本发明的实施，利用多光子探测的数据来保证TCSPC系统的高计数效率，缩短光子的采集时间，从而提高了TCSPC荧光寿命的成像速度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 荧光 寿命 偏差 量化 校正 方法 装置 | ||
【主权项】：
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