[发明专利]一种芯片测试电路在审
| 申请号： | 202110290155.3 | 申请日： | 2021-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN113049945A | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | 康希 | 申请（专利权）人： | 湖南国科微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 刘晓菲 |
| 地址： | 410131 湖南省长沙市*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片测试电路，包括设置于驱动芯片的N个输出通道与M个测试通道之间的N个开关和处理模块，处理模块控制各个开关的导通与关断。由于M是小于N的整数，驱动芯片的多个输出通道可依次通过一个测试通道输出驱动电压，处理模块无需与驱动芯片所有输出通道连接，仅与相应的测试通道连接即可接收驱动芯片的各个输出通道输出的驱动电压，以判断驱动芯片是否正常工作。本申请中的处理模块无需设置与驱动芯片的输出通道的数量相等的输入端即可对驱动芯片的各个输出通道输出的驱动电压进行测试，降低成本。且当处理模块的输入端的数量大于M时，处理模块可与多个驱动芯片对应的测试通道连接以对多个驱动芯片进行测试，提高测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 电路 | ||
【主权项】：
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