[发明专利]一种用于曲轴综合测量的测头装置和测量方法有效
申请号: | 202110291471.2 | 申请日: | 2021-03-18 |
公开(公告)号: | CN113074677B | 公开(公告)日: | 2023-03-17 |
发明(设计)人: | 王亚晓;王洪喜;田慧慧;梁文宏;王冠伟;贾建军 | 申请(专利权)人: | 西安工业大学 |
主分类号: | G01B21/00 | 分类号: | G01B21/00;G01B21/02 |
代理公司: | 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 | 代理人: | 黄秦芳 |
地址: | 710032 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于曲轴综合测量的测头装置和测量方法,该装置由导向机构、板型测量接触机构、位移检测单元及壳体构成。导向机构包括两组平行圆膜片、两根支撑杆、前端连接件、后端连接件及膜片底座;板型测量接触机构由测板、测杆构成;位移检测单元由两支精密位移传感器及其固定座构成;壳体由前盖、后盖及中间壳体构成。本发明采用两组平行布置的弧形槽圆膜片导轨作为测头的导向机构,通过采用双传感器布置消除阿贝误差,以此提高测头测量精度。本发明为独立的测头装置,将其安装到具有坐标测量功能的曲轴综合测量平台,可实现曲轴径向参数的精密测量。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 曲轴 综合 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】:
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