[发明专利]芯片FT与EQC一体化测试方法及系统在审
| 申请号： | 202110294598.X | 申请日： | 2021-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN113051115A | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | 吴春诚;徐磊;赵世伟 | 申请（专利权）人： | 珠海芯网测控有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F8/61;G06F9/445 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 张志辉 |
| 地址： | 519000 广东省珠海市高新区唐*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了芯片FT与EQC一体化测试方法及系统，该方法包括以下步骤：上位机根据测试请求运行对应的测试程序，基于测试配置表从测试程序中读取烧码数据，通过中断方式向单片机发送烧码数据；单片机接收烧码数据并保存至RAM内，并将烧码数据烧录至待测芯片中；上位机通过单片机对待测芯片进行FT测试，若检测到通过FT测试的待测芯片的数量大于等于预设EQC测试需求数量，则对通过FT测试的待测芯片进行EQC测试。本发明实现了对待测芯片在线烧录一体化，提高了测试效率，节约了时间成本和人力成本，且对于同一种芯片不同烧码只需要修改上位机的测试程序，不需要对单片机再进行修改，测试操作更加便利。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 ft eqc 一体化 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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