[发明专利]激光打标的中心测量方法、装置、设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 202110297765.6 申请日: 2021-03-19
公开(公告)号: CN113020824B 公开(公告)日: 2023-05-12
发明(设计)人: 赵本和;马清梅;黄敏;庄丽涓;张真 申请(专利权)人: 深圳晶森激光科技股份有限公司
主分类号: B23K26/70 分类号: B23K26/70;B23K26/362
代理公司: 深圳市特讯知识产权代理事务所(普通合伙) 44653 代理人: 黄彧
地址: 518000 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及激光打标领域,公开了一种激光打标的中心测量方法、装置、设备及存储介质。该方法包括:获取第一矩形打标物的第一横坐标和第一纵坐标,以及根据第一横坐标和第一纵坐标,计算出第一矩形打标物对应的第一中心坐标;接收第一打标指令,根据第一中心坐标,调动激光射线进行激光打标处理,使激光射线停留在第一中心坐标处;获取第二矩形打标物的第二横坐标和第二纵坐标,以及根据第二横坐标和第二纵坐标,计算出第二矩形打标物对应的第二中心坐标;基于第二中心坐标与第一中心坐标的差值,调动激光射线移动至第二中心坐标处;接收第二打标指令,根据第二中心坐标,调动激光射线进行激光打标处理,使激光射线停留在第二中心坐标处。
搜索关键词: 激光 标的 中心 测量方法 装置 设备 存储 介质
【主权项】:
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