[发明专利]芯片测试方法、计算芯片和数据处理设备在审
| 申请号： | 202110307448.8 | 申请日： | 2021-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN113064051A | 公开（公告）日： | 2021-07-02 |
| 发明（设计）人： | 刘建波;陈默;范志军;郭海丰;杨作兴 | 申请（专利权）人： | 深圳比特微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/317;G06F7/58 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 於菪珉 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市高*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本公开涉及一种芯片测试方法、计算芯片和数据处理设备。芯片测试方法包括：预先根据测试向量和测试随机值设置多个测试期望值，其中，测试向量包括传输到核中的第一测试向量以及在核中根据第一测试向量生成的第二测试向量，和/或测试随机值包括在核中生成的多个测试随机值；对测试向量和测试随机值进行测试运算，以生成多个测试结果值；和分别比较多个测试结果值与多个测试期望值中的相应的测试期望值，以生成核测试结果，其中，测试结果值与相应的测试期望值是根据相同的测试向量和相同的测试随机值生成的；以及根据多个核中的每个核的核测试结果，生成计算芯片的芯片测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 计算 数据处理 设备 | ||
【主权项】：
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