[发明专利]强度分布的光学测定方法在审
| 申请号： | 202110308584.9 | 申请日： | 2021-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN113433393A | 公开（公告）日： | 2021-09-24 |
| 发明（设计）人： | P·尼茨;A·海姆萨特;P·肖特尔;G·伯恩;M·比特林;T·施密特 | 申请（专利权）人： | 弗劳恩霍夫应用研究促进协会 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 | 代理人： | 南毅宁 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开涉及一种强度分布光学测定方法，包括：通过有源或无源辐射源产生空间不均匀的辐射场；图像传感器和辐射源之间产生第一相对运动，使辐射场沿着第一测量轨迹在图像传感器的传感器场上运动，使图像传感器被辐射场的第一测量轨迹区域扫过，记录辐射场的包括多个位置分辨图像的第一图像集；图像传感器和辐射源之间产生第二相对运动，使辐射场沿第二测量轨迹在所述传感器场上运动，使图像传感器被辐射场的第二测量轨迹区域扫过，记录辐射场的包括多个位置分辨图像的第二图像集；至少在第一测量轨迹区域和第二测量轨迹区域的评估线的交点处评估位置分辨图像；为每个图像集，至少对每个交点确定特征灰度值；至少在交点的子集处确定相对强度分布。 | ||
| 搜索关键词： | 强度 分布 光学 测定 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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