[发明专利]一种光学尺测量光学镜片厚度的结构有效
| 申请号： | 202110313106.7 | 申请日： | 2021-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN113074647B | 公开（公告）日： | 2023-03-24 |
| 发明（设计）人： | 叶华林;李浈 | 申请（专利权）人： | 深圳市东宁数控设备有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 深圳紫晴专利代理事务所(普通合伙) 44646 | 代理人： | 陈映辉 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光学尺测量光学镜片厚度的结构，它包括底座，所述底座上面设有工作台架，所述工作台架外侧设有Y轴向移动机构，所述Y轴移动机构外侧面设有Z轴向转动机构，所述工作台架内侧面且与Z轴向转动机构位置对应处设有配合Z轴向转动机构转动的X轴向转动机构，所述工作台架内侧且靠近X轴向转动机构设有主轴加工机构和光学尺机构。本发明的优点：加工镜片种类多和复杂的产品、加工精度高、加工速度快。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 测量 光学镜片 厚度 结构 | ||
【主权项】：
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