[发明专利]晶圆结构及其制备方法、三维存储器、电子设备在审
申请号: | 202110315251.9 | 申请日: | 2021-03-24 |
公开(公告)号: | CN113078061A | 公开(公告)日: | 2021-07-06 |
发明(设计)人: | 刘磊;周文犀;夏志良 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/324 | 分类号: | H01L21/324;H01L27/11551;H01L27/11578 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 熊永强 |
地址: | 430074 湖北省武汉*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本申请提供了一种晶圆结构,所述晶圆结构包括晶圆及薄膜层,所述薄膜层设置于所述晶圆的一侧,所述薄膜层包括至少一个第一薄膜部及至少一个第二薄膜部,所述第一薄膜部连接所述第二薄膜部,且所述第一薄膜部与所述第二薄膜部的翘曲程度不同。通过工艺技术可对所述薄膜层的不同位置进行定制化翘曲,使得所述薄膜层形成多个所述第一薄膜部及多个所述第二薄膜部,从而控制所述晶圆结构的翘曲程度,则可以实现不同径向上的翘曲程度相同,且避免翘曲程度过大。本申请还提供了一种晶圆制备方法、三维存储器及电子设备。 | ||
搜索关键词: | 结构 及其 制备 方法 三维 存储器 电子设备 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造