[发明专利]坏块筛选方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备在审

专利信息
申请号: 202110318394.5 申请日: 2021-03-25
公开(公告)号: CN113241112A 公开(公告)日: 2021-08-10
发明(设计)人: 孙成思;孙日欣;王营许;高嵊昊;胡伟;朱渝林;童海涛 申请(专利权)人: 成都佰维存储科技有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 深圳市博锐专利事务所 44275 代理人: 欧阳燕明
地址: 610000 四川省成都市高新*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开一种坏块筛选方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备,多次读取NAND闪存的待筛选块的当前页的原始数据,得到第一数据集合;基于所述第一数据集合与标准原始数据得到比特翻转个数集合;判断所述比特翻转个数集合中任一比特翻转个数是否超过第一预设阈值,若是,则将所述当前页对应的待筛选块标记为坏块,若否,则判断所述比特翻转个数集合是否为稳定状态,若否,则将所述当前页对应的待筛选块标记为坏块,将比特翻转的概率性转换成了确定性趋势,基于比特翻转个数集合进行坏块判断,有效防止了比特翻转概率性导致遗漏统计比特翻转个数的情况,能够更准确地筛选坏块,避免了坏块遗漏。
搜索关键词: 筛选 方法 装置 计算机 可读 存储 介质 电子设备
【主权项】:
暂无信息
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