[发明专利]一种自适应闭环性能测试方法、系统及介质在审
申请号: | 202110321910.X | 申请日: | 2021-03-25 |
公开(公告)号: | CN112905484A | 公开(公告)日: | 2021-06-04 |
发明(设计)人: | 贺子宸 | 申请(专利权)人: | 兴业数字金融服务(上海)股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人: | 李佳俊;郭国中 |
地址: | 200120 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了一种自适应闭环性能测试方法、系统及介质,涉及计算机应用技术领域,该方法包括:性能指标监控决策步骤:实时监控记录被测系统各项性能指标及资源使用情况;压力决策调整步骤:基于性能指标及资源使用情况,控制加压装置调整压力;异常信息记录步骤:当判断指标异常时触发异常信息记录操作,记录系统异常日志等信息;资源清理处理步骤:根据各项资源指标进行分析,当达到设定的清理阈值时,触发相关资源清理操作。本发明能够通过指标监测值自适应调整输入压力等参数,在指标异常时自动记录相关日志等信息,同时监测硬盘存储等资源使用情况,及时自动执行备份清理等操作,有效减少性能测试中的人工成本,缩短测试周期,提高测试效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 自适应 闭环 性能 测试 方法 系统 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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