[发明专利]一种光学材料双折射率的测试装置及测试方法在审
| 申请号： | 202110322574.0 | 申请日： | 2021-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN113533254A | 公开（公告）日： | 2021-10-22 |
| 发明（设计）人： | 龙西法;王祖建;杨云;苏榕冰;何超;杨晓明 | 申请（专利权）人： | 中国科学院福建物质结构研究所 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45 |
| 代理公司： | 北京知元同创知识产权代理事务所(普通合伙) 11535 | 代理人： | 梁田;聂稻波 |
| 地址： | 350002 *** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光学材料双折射率的测试装置及测试方法，包括双光路模块、正交偏光系统、厚度测量模块、补色器、位相检测模块及与其均直接相连的成像模块和光程差测算模块；双光路模块与正交偏光系统直接相连且位于正交偏光系统后部；厚度测量模块与正交偏光系统的载物台直接相连；补色器位于正交偏光系统中间镜筒中；成像模块位于正交偏光系统光路中上偏光镜之上。本发明以干涉补色原理为基础，借助“异名轴相交，干涉色降低”的干涉规律，通过补色器调整样品干涉色从而获得样品光程差，进而得到样品在不同波长下的双折射率，极大地提高了双折射率的测量精度和测试效率，有助于非线性光学晶体、双折射晶体等新型光学材料的快速筛选。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学材料 双折射 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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