[发明专利]半导体装置和元件切断异常检测方法在审
| 申请号： | 202110324132.X | 申请日： | 2021-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN113466743A | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 椎名美臣;吉田宪治 | 申请（专利权）人： | 艾普凌科有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/54 | 分类号： | G01R31/54;G01R31/52 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 邓毅;黄纶伟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及半导体装置和元件切断异常检测方法。提供半导体装置，能够检测两个熔断器均短路或切断的异常状态。半导体装置具有：调整电路，其具有所串联连接的第1熔断器和第2熔断器；电流源电路，其向调整电路供给电流；以及判定电路，其根据基于从调整电路输出的电压的信号，判定第1熔断器和第2熔断器的切断或连接的状态是否为异常状态。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 装置 元件 切断 异常 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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