[发明专利]测试系统以及测试方法在审

专利信息
申请号: 202110326352.6 申请日: 2021-03-26
公开(公告)号: CN113112779A 公开(公告)日: 2021-07-13
发明(设计)人: 刘超;牛建;刘春霞 申请(专利权)人: 上海创米科技有限公司
主分类号: G08B29/00 分类号: G08B29/00;G08B3/10;H04K3/00;G08C17/02
代理公司: 北京市一法律师事务所 11654 代理人: 刘荣娟
地址: 200241 上海市闵行*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 本申请提供一种测试系统以及一种测试方法。所述测试系统包括屏蔽器件、控制器、接收器控制单元以及发射器控制单元。所述屏蔽器件被配置为屏蔽其外部的干扰信号,以避免出现交叉互配。所述控制器可以响应于用户的操作生成第一控制指令和第二控制指令。所述接收器控制单元设置在所述屏蔽器件内。所述接收器控制单元可以根据所述第一控制指令触发位于屏蔽器件内的接收器进入配对模式。所述发射器控制单元设置在屏蔽器件内,所述发射器控制单元可以根据所述第二控制指令触发位于所述屏蔽器件内的发射器发射频率在目标范围内的目标信号从而实现配对测试控制。
搜索关键词: 测试 系统 以及 方法
【主权项】:
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