[发明专利]正电子发射断层成像装置、符合效率检测方法及归一化方法有效
| 申请号： | 202110330513.9 | 申请日： | 2021-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN113069138B | 公开（公告）日： | 2023-06-30 |
| 发明（设计）人： | 李俊 | 申请（专利权）人： | 上海联影医疗科技股份有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 上海思捷知识产权代理有限公司 31295 | 代理人： | 张敏 |
| 地址： | 201807 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种正电子发射断层成像装置、符合效率检测方法及归一化方法。其中，所述正电子发射断层成像的符合效率检测方法包括：获取符合事件的符合数据；根据所述符合数据对响应线进行计数，得到计数结果；根据计数结果得到符合探测效率。如此配置，实时地获取每个所述响应线对应的符合探测效率，以此为基础构造的归一化方法，也能够实时地进行补偿运算。从而解决了现有技术中的PET成像过程由于现有归一化方法的影响，存在出图耗时较长，并且获得归一化系数的过程繁琐的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 正电子 发射 断层 成像 装置 符合 效率 检测 方法 归一化 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海联影医疗科技股份有限公司，未经上海联影医疗科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110330513.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种离合器执行机构与换挡机构的气路结构及变速器
- 下一篇：一种神经内科护理床
