[发明专利]电子衍射全息照相术在审
申请号: | 202110331227.4 | 申请日: | 2021-03-29 |
公开(公告)号: | CN113466269A | 公开(公告)日: | 2021-10-01 |
发明(设计)人: | A·亨斯特拉;Y·邓;H·科尔 | 申请(专利权)人: | FEI公司 |
主分类号: | G01N23/20058 | 分类号: | G01N23/20058;H01J37/21;H01J37/295 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 张凌苗;周学斌 |
地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 电子衍射全息照相术。根据本公开,用于使用电子衍射全息照相术来研究样本的方法包括以下初始步骤:向所述样本发射多个电子;将所述多个电子形成为第一电子束和第二电子束;以及修改所述两个束中的至少一个的聚焦特性,使得所述两个束具有不同的焦平面。一旦所述两个束具有不同的焦平面,所述方法就包括:聚焦所述第一电子束,使得其在所述样本处或所述样本附近具有焦平面;以及聚焦所述第二电子束,使得其入射到所述样本上,并在衍射平面中具有焦平面。然后在所述衍射平面中检测所述第一电子束和衍射的第二电子束的干涉图案,然后用于生成衍射全息图。 | ||
搜索关键词: | 电子衍射 全息 照相术 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于FEI公司,未经FEI公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110331227.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:低温电子显微术中的温度监测方法
- 下一篇:电控界面力产生装置和推进发动机