[发明专利]适用于对地光学探测星座阳光干扰的通用分析方法有效
| 申请号： | 202110340727.4 | 申请日： | 2021-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN113176072B | 公开（公告）日： | 2022-08-12 |
| 发明（设计）人： | 俞洁;陈祥;宋效正;郭海波;任秉文;张凌燕 | 申请（专利权）人： | 上海卫星工程研究所 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00;G06F30/20;B64G7/00 |
| 代理公司： | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人： | 李佳俊;郭国中 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种适用于对地光学探测星座阳光干扰的通用分析方法，包括如下步骤：根据卫星高度、轨道面太阳角获得单星每轨阳光干扰特性；根据单轨道面内卫星分布特性、单星每轨阳光干扰特性，获得单轨道面所有卫星阳光干扰特性；根据卫星轨道高度、卫星轨道倾角获得卫星在轨运行过程中光照回归周期；根据卫星光照回归周期，获取星座内所有轨道面太阳角分布；根据光照回归周期内所有轨道面的太阳角分布，结合上述的结果，筛选极端工况；建立极端工况仿真场景，计算获取星座阳光干扰影响的分析结果。本发明通过从单星出发、继而到单轨道面，最终到多轨道面星座，分析原理清晰，方法简单，避免大计算量分析过程，最终将阳光干扰影响简化为统计分析。 | ||
| 搜索关键词： | 适用于 光学 探测 星座 阳光 干扰 通用 分析 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海卫星工程研究所，未经上海卫星工程研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110340727.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种连杆式间距调节装置和移液器
- 下一篇：一种模块化汽车继电器保险丝盒
