[发明专利]一种用于三阶数字相关器的性能测试系统及方法在审
| 申请号： | 202110341641.3 | 申请日： | 2021-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN113125883A | 公开（公告）日： | 2021-07-16 |
| 发明（设计）人： | 于哲;刘浩;牛立杰;韩东浩 | 申请（专利权）人： | 中国科学院国家空间科学中心 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 | 代理人： | 杨青;张萍 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于空间微波遥感技术领域，具体地说，涉及一种用于三阶数字相关器的性能测试系统及方法，其包括：数据参数设置模块，用于向数据生成模块同时发送多路所需要的激励噪声信号的设置参数；数据生成模块，用于根据发送的激励噪声信号的设置参数，对应地生成任意波形的四个激励噪声信号；数据发送与处理模块，用于分别将四个激励噪声信号进行数模转换，分别得到对应的噪声模拟信号，并将其依次顺序输入至待测三阶数字相关器；对待测三阶数字相关器的相关偏置性能、相关效率性能、稳定度性能、线性度性能和相位误差性能进行测试，得到对应的测试结果，完成对三阶数字相关器的性能测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 数字 相关器 性能 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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