[发明专利]一种检测金属中氢分布的简易氢微印方法在审
| 申请号： | 202110342056.5 | 申请日： | 2021-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN113092205A | 公开（公告）日： | 2021-07-09 |
| 发明（设计）人： | 李金许;李维国;王菲 | 申请（专利权）人： | 北京科技大学 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01N1/32;G01N1/34;G01Q30/20;G01Q30/02 |
| 代理公司： | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人： | 张仲波 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种检测金属中氢分布的简易氢微印方法，属于金属腐蚀技术领域。该方法通过将金属试样放入提前配制好的溴化银的可溶性亚硝酸盐溶液中，在黑暗不透光的条件下静置反应，之后经甲醛溶液固化后清洗，最后用扫描电子显微镜观察试样中银颗粒的分布特点，进而间接表征氢在试样中的分布状态。其原理是通过氢原子与银离子发生氧化还原反应，在原先氢分布较多的区域生成银颗粒沉淀，通过观察银颗粒的分布位置就可以间接表征氢在样品中的分布位置。本发明能够在不借助APT、SKPFM、SIMS等昂贵的专业设备下研究氢在样品中的分布，极大地节约了实验研究成本，为氢分布表征提供了新思路。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 金属 分布 简易 氢微印 方法 | ||
【主权项】：
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