[发明专利]一种MEMS硅压阻式压力传感器及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202110342655.7 申请日: 2021-03-30
公开(公告)号: CN113063530A 公开(公告)日: 2021-07-02
发明(设计)人: 胡宗达;彭鹏;李奇思;张坤;宋义雄 申请(专利权)人: 成都凯天电子股份有限公司
主分类号: G01L1/18 分类号: G01L1/18;H05B3/02;H05B3/06;H05B3/20;B81B7/02
代理公司: 成都君合集专利代理事务所(普通合伙) 51228 代理人: 尹新路
地址: 610091 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提出了一种MEMS硅压阻式压力传感器及其制备方法,通过设置硅衬底层、发热Pt电阻层、金属Al热沉结构层和压阻器件层,为MEMS硅压阻芯片提供一个稳定的温度场,利用恒温温度场系统将MEMS敏感元件与外界温度场相隔离,从而在本质上达到解决MEMS压阻式压力传感器的温漂过大的问题。通过本发明可以实现温度隔离,使得传感器的测量更精准,且能适用于更大温度范围的场景,并减小了温度漂移等带来的误差。
搜索关键词: 一种 mems 硅压阻式 压力传感器 及其 制备 方法
【主权项】:
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