[发明专利]一种测量输送带上宽筛分颗粒粒度的测量装置及方法在审

专利信息
申请号: 202110344752.X 申请日: 2021-03-29
公开(公告)号: CN112881249A 公开(公告)日: 2021-06-01
发明(设计)人: 浦世亮;吴学成;毛慧;吴迎春;陈玲红;王凌珑;岑可法 申请(专利权)人: 杭州海康威视数字技术股份有限公司;浙江大学
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 代理人: 白静兰;胡红娟
地址: 310051 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种测量输送带上宽筛分颗粒粒度的测量装置:单光源多光束激光发射系统,包括激光器、光纤分束器和准直扩束器;激光器发射的激光束依次经光纤分束器和准直扩束器限制成直径不同的准直平行光束,照射输送带形成直径不同的多光斑,颗粒经过光斑产生散射光信号;散射光信号采集系统,包括三条采集通道,用于将散射光信号依次经透镜和分束器分开记录在不同光电探测器上,得到散射光强度‑时间图像;散射光信号处理系统,通过对散射光强度‑时间图像进行模式识别和反演,获得颗粒的粒径。本发明还公开了一种采用上述测量装置的测量方法。该装置和方法基于光散射原理,可以实现宽筛分布颗粒粒度的在线原位测量,测量结果准确及时。
搜索关键词: 一种 测量 输送 带上 筛分 颗粒 粒度 装置 方法
【主权项】:
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