[发明专利]反射式位移测量装置在审

专利信息
申请号: 202110349859.3 申请日: 2021-03-31
公开(公告)号: CN112902854A 公开(公告)日: 2021-06-04
发明(设计)人: 苟敬德;王洋;杨尚;赵尔瑞;李德胜 申请(专利权)人: 长春禹衡光学有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218 代理人: 高一明;郭婷
地址: 130000 吉林省*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明提供一种反射式位移测量装置,包括:投影系统、指示光栅、反射标尺光栅和接收系统,投影系统发出的平行光入射到指示光栅,并经过指示光栅入射到反射标尺光栅的表面,再反射回指示光栅产生莫尔条纹投影到接收系统转换为电信号;指示光栅包括玻璃基材,在玻璃基材镀有吸光膜,在吸光膜上刻蚀有由振幅光栅和相位光栅组成的只拥有±1级衍射条纹的复振幅光栅。本发明提供的反射式位移测量装置能够在提高能使用率、降低光栅的制造难度的条件下获得理想的光强分布。
搜索关键词: 反射 位移 测量 装置
【主权项】:
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