[发明专利]集成电路失效分析检测方法有效
| 申请号： | 202110353143.0 | 申请日： | 2021-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN112735968B | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 龚羽;沈春;周耀 | 申请（专利权）人： | 苏州日月新半导体有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;H01L21/56;G01R31/28;G01N21/95;G01N1/28 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 林斯凯 |
| 地址： | 215021 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例涉及一种集成电路失效分析检测方法。根据本申请的一实施例，集成电路失效分析检测方法包括：对集成电路组件进行封胶以得到包含集成电路的胶柱体，其中集成电路组件包括晶片和衬底，衬底具有第一表面和与第一表面相对的第二表面，晶片位于衬底的第一表面上；以及从靠近衬底的第二表面的胶柱体的底面进行研磨至暴露衬底。本申请实施例提供的集成电路失效分析检测方法可有效解决传统技术中遇到的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 失效 分析 检测 方法 | ||
【主权项】：
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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