[发明专利]光纤光栅离层的测量装置及测量方法在审
| 申请号： | 202110358089.9 | 申请日： | 2021-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN113188407A | 公开（公告）日： | 2021-07-30 |
| 发明（设计）人： | 王冕;王银磊;许康康;陈建 | 申请（专利权）人： | 安徽蓝科光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/06 | 分类号： | G01B5/06 |
| 代理公司： | 北京景闻知识产权代理有限公司 11742 | 代理人： | 么立双 |
| 地址： | 234000 安徽省宿州市高新*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光纤光栅离层的测量装置及测量方法，测量装置用于检测离层数据且包括：第一测量组件和第二测量组件。第一测量组件的一端与第一测量点固定，第一测量组件的另一端具有第一刻度示意部；第二测量组件的一端与第二测量点固定，第二测量组件的另一端具有第二刻度示意部；第一测量点和第二测量点位于离层上，当离层变动时，第一测量点和第二测量点的相对位置变化，第一刻度示意部显示的刻度值和第二刻度示意部显示的刻度值用于计算离层的厚度。根据本发明的光纤光栅离层的测量装置，通过设置第一刻度示意部和第二刻度示意部，可以通过第一刻度示意部显示的刻度值和第二刻度示意部显示的刻度值来计算离层的厚度，实现离层数据的可视化。 | ||
| 搜索关键词： | 光纤 光栅 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
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