[发明专利]一种TEM室场均匀性自动校准装置和校准方法在审
| 申请号： | 202110359238.3 | 申请日： | 2021-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN113138359A | 公开（公告）日： | 2021-07-20 |
| 发明（设计）人： | 张恒萍;朱传焕;唐君 | 申请（专利权）人： | 中国舰船研究设计中心 |
| 主分类号： | G01R33/10 | 分类号： | G01R33/10 |
| 代理公司： | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人： | 胡建平 |
| 地址： | 430064 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种TEM室场均匀性自动校准装置和校准方法，利用晶体检波器场强传感器组成的传感器阵列作为信号采集部分，通过低扰动电场探头阵列按顺序获取场强值，并分别通过4路、9路、24路电光转换器转换后由光纤输出电信号数据阵列，再通过计算机的数据分析软件统计分析场强分布、评价横电磁波室内产生的电磁场是否均匀，根据场均匀性结果评定TEM室性能；实现了对多种尺寸的TEM室或GTEM室极板间场的均匀性校准，频率范围宽，动态范围广，光纤信号传输抗干扰性强，使用方便；适合于计量校准、科研生产和检测检验等活动，特别适合工业、环保、通信、武器装备等射频微波电磁场均匀性监测的行业。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 tem 均匀 自动 校准 装置 方法 | ||
【主权项】：
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