[发明专利]一种硒化亚锗或硫化亚锗多晶薄膜及其制备方法和用途有效

专利信息
申请号: 202110362318.4 申请日: 2021-04-02
公开(公告)号: CN113097317B 公开(公告)日: 2022-07-19
发明(设计)人: 胡劲松;薛丁江;胡利艳;冯明杰 申请(专利权)人: 中国科学院化学研究所
主分类号: H01L31/032 分类号: H01L31/032;H01L31/0368;H01L31/0445;H01L31/18
代理公司: 北京中知星原知识产权代理事务所(普通合伙) 11868 代理人: 艾变开
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种硒化亚锗或硫化亚锗多晶薄膜,所述薄膜是在水溶性还原剂、锗源、硫或硒源通过水热法在基底上形成非晶膜后,再进行退火处理得到,多晶薄膜的晶粒以站立取向生长。对于硒化亚锗或硫化亚锗多晶薄膜,其XRD分别在晶面(111)出峰,该晶面为晶粒站立取向,有利于载流子的传输,从而得到光电性能优异的硒化亚锗多晶薄膜。本发明方法不需要气相法通常需要的设备复杂,且需要精确控制工艺参数,而该方法操作设备简单,反应过程较易可控,可大面积生产,同时有利于对薄膜进行掺杂或者合金化处理,所制备的薄膜表面平整,晶粒均一。
搜索关键词: 一种 硒化亚锗 硫化 多晶 薄膜 及其 制备 方法 用途
【主权项】:
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