[发明专利]一种基于散射测量的高集成天线辐射方向图测试方法在审
| 申请号： | 202110364166.1 | 申请日： | 2021-04-03 |
| 公开（公告）号： | CN113125862A | 公开（公告）日： | 2021-07-16 |
| 发明（设计）人： | 张照;施兴华;葛薇;王成浩;李少龙;吴燕民 | 申请（专利权）人： | 中国电波传播研究所（中国电子科技集团公司第二十二研究所） |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10;G01S7/40 |
| 代理公司： | 青岛博雅知识产权代理事务所(普通合伙) 37317 | 代理人： | 封代臣 |
| 地址： | 266107 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于散射测量的高集成天线辐射方向图测试方法，包括如下步骤：（1）基于单站雷达截面RCS测试系统：（2）基于双站RCS测试系统：最后利用公式获取天线的辐射方向图。本发明所公开的测试方法，基于单站和双站两种RCS测试系统，待测天线无需与测试平台的馈线连接，不需要解决探头和被测天线间的远距离连接和信号同步，消除了在测试过程中因连接有源器件和天线平台的改变所带来的影响，并且在该测试系统中设置的环境更接近实际场所中的工作环境。在双站测试方式下，天线与平台系统不需旋转移动，大大降低了对测试系统的要求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 散射 测量 集成 天线 辐射 方向 测试 方法 | ||
【主权项】：
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