[发明专利]Android应用检测分析方法、电子设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 202110365195.X 申请日: 2021-04-06
公开(公告)号: CN112733145B 公开(公告)日: 2021-06-08
发明(设计)人: 徐国爱;张淼;徐国胜;王晨宇;尹志颖;高宇昊 申请(专利权)人: 北京邮电大学
主分类号: G06F21/56 分类号: G06F21/56;G06F8/53
代理公司: 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 代理人: 李莎
地址: 100876 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开提供一种Android应用检测分析方法、电子设备及存储介质,可支持本地代码对目标应用进行全面精确的检测分析,方法全面、健壮、高效。所述方法包括:获取Java代码、本地代码的基本信息,将Java代码指令、本地代码指令转换为Java抽象指令与本地抽象指令,基于抽象指令进行函数分析确定Java函数信息、本地函数信息并确定Java代码与本地代码各自功能模块结构及函数连接关系并最终构建全局控制流图,从而可以利用Java基本信息、所述本地基本信息、所述Java函数信息、所述本地函数信息、所述Java代码的功能模块结构、所述本地代码的功能模块结构、所述函数连接关系以及所述全局控制流图对所述目标Android应用进行检测分析。所述电子设备及所述存储介质用于实现所述方法。
搜索关键词: android 应用 检测 分析 方法 电子设备 存储 介质
【主权项】:
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