[发明专利]硅基探测器及其制作方法有效

专利信息
申请号: 202110367441.5 申请日: 2021-04-06
公开(公告)号: CN113299785B 公开(公告)日: 2022-08-16
发明(设计)人: 许高博;翟琼华;丁明正;傅剑宇;孙朋;殷华湘;颜刚平;田国良 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L31/107 分类号: H01L31/107;H01L31/0352;H01L31/18
代理公司: 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 代理人: 佟林松
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种硅基探测器及其制作方法,该硅基探测器包括衬底以及设置在所述衬底上的器件结构层,所述器件结构层包括沿垂直所述衬底平面方向向上依次设置的吸收层、增益层、第一电荷层、第二电荷层和接触层;所述器件结构层还包括环状结区,所述环状结区位于所述吸收层上方,且套设在所述增益层、所述第一电荷层、所述第二电荷层和所述接触层的边缘外侧;所述环状结区与所述吸收层、第一电荷层和第二电荷层的掺杂类型均不同。该硅基探测器通过引入第二电荷层可以有效增加增益区的深度,提高器件的耗尽电压与击穿电压,获得合适的增益与较高的时间分辨,同时能够减少探测器对高能离子注入等极端工艺和设备的依赖。
搜索关键词: 探测器 及其 制作方法
【主权项】:
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