[发明专利]超导高频测试系统和方法有效

专利信息
申请号: 202110367795.X 申请日: 2021-04-06
公开(公告)号: CN113030709B 公开(公告)日: 2022-06-24
发明(设计)人: 任洁;陈理云;应利良;王镇 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 上海泰博知识产权代理有限公司 31451 代理人: 钱文斌
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种超导高频测试系统和方法,先接收触发脉冲信号,输出周期性的高频时钟信号;对高频时钟信号的连断性进行控制,输出高频控制时钟信号;接收初始信号为线性反馈移位寄存器设置非零初始状态,基于高频控制时钟信号同时输出多路预设周期长度的周期性的伪随机序列;待测电路接收多路伪随机序列,输出多路测试信号;接收所述多路测试信号,基于低频时钟信号输出多路转换信号;将多路转换信号与预期的输出结果进行对比,确定待测电路是否正常工作。本发明电路结构相对比较简单;输入信号是基于线性反馈移位寄存器生成的伪随机序列,可以实现持续性的高频测试,更符合待测电路的实际工作情况。
搜索关键词: 超导 高频 测试 系统 方法
【主权项】:
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