[发明专利]集成测试板卡、芯片测试系统及芯片测试方法在审
| 申请号： | 202110372517.3 | 申请日： | 2021-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN113219319A | 公开（公告）日： | 2021-08-06 |
| 发明（设计）人： | 凌献忠;田敏 | 申请（专利权）人： | 苏州华兴源创科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 缪成珠 |
| 地址： | 215000 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请涉及芯片测试技术领域，具体公开一种集成测试板卡、系统及测试方法。装置包括中断产生模块、主控模块及功能测试模块：中断产生模块用于在接收到测试终端发出的测试指令时，产生第一中断触发信号；主控模块响应于第一中断触发信号，获取与测试指令对应的测试参数信息，并根据测试参数信息配置功能测试模块，以使功能测试模块对待测芯片进行测试；主控模块还用于在功能测试模块测试完毕后产生应答指令，并发送应答指令至中断产生模块；中断产生模块还用于在接收到应答指令时，产生第二中断触发信号，并发送第二中断触发信号至测试终端，以通知测试终端获取测试结果。上述集成测试板卡节约了测试终端大量的资源，有利于实现高效稳定的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 集成 测试 板卡 芯片 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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