[发明专利]元素分析方法在审
申请号: | 202110373638.X | 申请日: | 2016-12-08 |
公开(公告)号: | CN113155876A | 公开(公告)日: | 2021-07-23 |
发明(设计)人: | 佐藤贤治;西村晓弘 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01N23/207 | 分类号: | G01N23/207 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明涉及一种元素分析方法。所述方法包括:利用激发束来照射预定照射区域以生成特征X射线;使特征X射线部分地经过狭缝;使通过所述狭缝的X射线进入平板状分光晶体以基于布拉格反射定律而选择性地被反射;检测X射线的强度来获得波长谱;以及基于波长谱中的峰的能量来识别试样中的元素和/或基于峰的强度来确定所述元素的量。 | ||
搜索关键词: | 元素 分析 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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