[发明专利]一种浮空p柱的逆导型槽栅超结IGBT有效

专利信息
申请号: 202110373827.7 申请日: 2021-04-07
公开(公告)号: CN112928156B 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 马瑶;黄铭敏;杨治美 申请(专利权)人: 四川大学
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/739
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610065 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供了一种逆导型超结IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor,绝缘栅双极型晶体管)器件,其超结耐压层中的第二导电类型的半导体区浮空且其槽型栅极结构的底部被重掺杂的第二导电类型的半导体区包围,并且含有侧面被第二导电类型的浮空区包围和顶部被第一导电类型的截止环包围的背面槽型绝缘介质区。该器件有较低的导通压降,能消除电压随电流的折回现象,且能避免击穿电压的降低。
搜索关键词: 一种 逆导型槽栅超结 igbt
【主权项】:
暂无信息
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