[发明专利]存储器地址测试电路、方法、存储器与电子设备有效
| 申请号： | 202110383149.2 | 申请日： | 2021-04-09 |
| 公开（公告）号： | CN112992251B | 公开（公告）日： | 2022-05-17 |
| 发明（设计）人： | 曹洪坤 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G11C29/18 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 孙宝海;袁礼君 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开提供一种存储器地址测试电路、方法、存储器与电子设备。存储器地址测试方法包括：对待测存储器输入地址测试指令，所述地址测试指令用于对所述待测存储器的目标存储单元进行读或写操作，所述地址测试指令至少包括所述目标存储单元的逻辑地址的第一地址信息；读取所述第一锁存器的输出端以得到第二地址信息；根据所述第二地址信息以及所述待测存储器的行译码逻辑获取第三地址信息；记录所述第一地址信息与所述第三地址信息的对应关系。本公开实施例可以自动获取软件代码地址、处理器输出的逻辑地址与存储器中存储单元物理地址之间的映射关系，提高存储器测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 地址 测试 电路 方法 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长鑫存储技术有限公司，未经长鑫存储技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110383149.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
