[发明专利]辅间隔物最高点确定方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202110384719.X | 申请日： | 2021-04-09 |
| 公开（公告）号： | CN113160155A | 公开（公告）日： | 2021-07-23 |
| 发明（设计）人： | 王明望 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/62;G06T11/20;G06T3/00 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 杜蕾 |
| 地址： | 518132 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请提供一种辅间隔物最高点确定方法、装置、电子设备及存储介质，涉及了显示技术领域，解决了使用抓取最高点的方式，则会发生易抓错辅间隔物的问题，所述方法包括以下步骤：提供基板样品，确定基板样品的最高点图像；获取基板样品沿辅间隔物高度方向截取的剖面分析图；设定高度区段范围；确定辅间隔物轮廓曲线最高点为辅间隔物最高点。本申请提供一种以二维的角度分析辅间隔物的最高点，设置高度区段范围，缩小辅间隔物最高点抓取范围，使辅间隔物最高点的抓取更加直观和精准，降低了辅间隔物最高点抓取错误的概率的辅间隔物最高点确定方法及装置。 | ||
| 搜索关键词： | 间隔 最高点 确定 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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